公司从事专业化的EDA软件服务与EDA工具定制化开发业务，团队具有深厚的EDA技术背景，深刻理解IC设计当前存在的难点问题，提供强有力的技术解决方案。公司创始团队具有近20年的EDA开发、市场和运营经验，在寄生参数提取、版图验证、OpenAccess平台软件开发、PDK开发与自动生成等多个领域具有独到的技术优势。  目前，EDA应用领域普遍存在的问题是：在EDA工具采购与IC设计工程师使用EDA工具之间存在着一个巨大的隐性成本（“Hidden Cost”）。每年IC设计公司和Foundry采购EDA工具之后，需要投入大量的CAD Engineer去对工具进行配置及定制开发。公司定位于为这些公司提供良好的EDA软件服务，降低其使用EDA工具的成本。 
公司的理想是：为中国IC产业的关键技术发展提供良好的技术解决方案，促进中国IC产业整体水平的提高；为国内外EDA公司、IC设计公司、Foundry提供专业化的EDA软件定制开发和技术服务，帮助其提高开发效率，降低开发成本。

公司主要产品及服务:

● DRC Runset QA工具Scout

● Drc Code图形化显示与分析工具XCal

● Pcell QA + LVS Runset QA工具Barde

● RCX Runset QA工具Tuta

● DRC Runset/LVS Runset/RCX Runset/Pcell 开发及QA服务PdkDev&QaService

● 安全芯片版图保护电路的自动布线工具ShieldRoute

● Memory Compiler自动生成工具MECC 

● 寄生参数提取网表一致性比对工具Plumb

● 版图显示工具（VGDS）和DRC错误分析工具（VGE）

● Wafer上有多少个Die计算工具DPW

● IC数据的版本权限管理工具ICFM

独家供应内存测试与修复解决方案并提供客制化设计服务的公司。拥有创新独特且具有专利的<可配置化暨管线式架构>内存测试与累加式内存修复的核心技术，并提供实时性的技术支持服务。 

透过紧密合作，供应完整的解决方案，使客户建构优化的内存测试与修复方式。 

• 便捷版内存测试开发平台：EZ-BIST 
• 检测与修复结合的SoCs’ memory解决方案：START 
• 非挥发性内存测试与修复硅智财：NVM Test and Repair IP 
• 各类内存客制化测试与修复解决方案 

芯测科技产品分为EDA工具与IP: 

• START EDA 工具系列

• 定制化设计 IP (Intellectual Property) 系列 

EZ-BIST & STARTTM v2

EZ-BIST设置简单，易于使用，适用于开发内存内存少于50个的MCU系统，是学术和半导体研究机构进行MBIST测试的最佳工具。 EZ-BIST的友好界面和简化的操作，使用户能够立即构建BIST电路，有效地缩短SoC开发时间，进一步改善了产品检查并降低开发成本。

STARTTM v2(SoC's memory Testing And Repairing Technology) <可配置化暨管线式架构> 的内存测试技术，是一个完整的内存测试和修复解决方案，用于生成BIST和BISR电路并可自动插入客户的设计中。STARTTM v2友好的界面和选单样式的结构性配置可帮助用户简单地为各种IC设计进行DFT。 

定制化设计IP 系列产品 (eFlash Test and Repair、SRAM Test and Repair、Other Types of Memory Test and Repair)

对于所有内存，例如eFlash、MTP、SRAM、MRAM等，iSTART均可根据特定的MBIST和MBISR设计客制化IP。透过iSTART的专业技术服务，客户可以显著提高产品质量和良率。