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Memory内建自测试和修复电路方案

Memory内建自测试和修复电路方案

芯测科技是独家供应内存测试与修复解决方案并提供客制化设计服务的公司。拥有创新独特且具有专有的<可配置化暨管线式架构>内存测试与累加式内存修复的核心技术，并提供实时性的技术支持服务。 
透过紧密合作，供应完整的解决方案，使客户建构优化的内存测试与修复方式。 
  • 便捷版内存测试开发平台：EZ-BIST 
  • 检测与修复结合的SoCs’ memory解决方案：START 
  • 非挥发性内存测试与修复硅智财：NVM Test and Repair IP 
  • 各类内存客制化测试与修复解决方案 
随着半导体先进制程演进的快速脚步，新世代电子产品的设计日趋精细，功能亦愈趋复杂。 
系统芯片设计不仅对于内存的需求日益增加，芯片设计厂商在追求如何维持芯片的质量、功耗(power)、效能(Performance)、产品成本控制以及提升可靠度等条件的极致表现时，必须积极地寻求更适合的解决方案。 
IC厂商透过运用芯测科技的高效能、低功耗 <可配置化暨管线式架构> 内存测试解决方案，进行新应用产品的系统芯片规画与建构。能够在最短时间内完成高质量的芯片设计，并达到有效成本控制，进而强化产品竞争优在激烈竞争的电子系统产品市场上保持领先地位。

 

EZ-BIST
EZ-BIST,  设置简单且易于使用, 适用于少量内存的IC 设计开发‚例如: MCU 芯片设计、学术单位、半导体研究中心等, 且学术及研究单位可透过 EZ-BIST 进一步了解内存测试的原理与方法。EZ-BIST的友好界面和简化的操作让使用者能够立即构建BIST电路，有效地缩短SoC开发时间，进一步改善产品质量并降低开发成本。

产品特色
  • Complete GUI interface
  • Support UDM (User Defined Memory)
  • Support memory grouping setting
  • Support auto clock tracing
  • Support clicks and drags to memory port insertion
  • Support gate-cell insertion for power saving
  • Smart error proofing design
  • Memory BIST insertion up to 50 instances
  • Multiple memory testing algorithms
  • Support testing algorithms selection by application & technology node
 
应用
  • MCU
  • IoT
  • White Goods
  • Medical equipment
 
测试接口
  • JTAG
 
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内存测试与修复电路开发环境-START
STARTTM v2 , 是2020年的新开发产品，适用于设计复杂的 SoC 应用, 对于内存使用单位并无任何限制。为了更因应车用安全系统的要求‚强化车用IC 所需要的测试流程‚STARTTM v2 除了具备 Bottom-Up、Multi-Chain、Auto-Gating clock 功能‚更新增POT(Power_On Testing)。并且因应高端 IC 在数据安全上的保护‚STARTTM v2 提供DMT (Dynamic Memory Testing)易失存储器测试流程‚DMT符合所有更高端芯片测试的需求‚以确保数据安全及正确性。另外‚针对 MRAM (Magnetoresistive Random Access Memory)此种新类型的忆体及其特性‚STARTTM v2 也提供客户有效的测试解决方案。

产品特色
  • Support Stand-alone repairing technical for memories without redundancy
  • Support UDM (User Defined Memory)
  • Support memory grouping setting
  • Support auto clock tracing
  • Support gate-cell insertion for power saving
  • Support POT (Power-On Testing)
  • Support DMT (Dynamic Memory Testing)
  • Support advanced testing algorithms for MRAM & ReRAM
  • Smart fool-proof design
  • No Memory instance limitation
  • GUI interface
  • Advanced repairing architecture
  • Multi-chain design
  • Bottom-up flow
  • Programmable algorithm
  • Multiple memory testing algorithms
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应用

  • Automotive
  • SSD
  • Security
  • AI
  • Edge Computing
  • Network
  • High Resolution TCON
  • AIoT

 

测试接口

• JTAG

• IEEE 1149.7

• IEEE 1687

 

 

IP系列产品
iSTART 可根据多种的内存，例如e-Flash，MTP，SRAM，MRAM等特定的MBIST和MBISR设计要求自定义IP。凭借在测试及修复领域积累的专利和经验，iSTART可以根据客户要求完成MBIST和MBISR，并立即为客户提供相应的IP。通过iSTART的专业技术服务，客户可以显著提高产品质量和良率。

 
产品特色
  • Provide testing IPs for all kind of memories
  • Support POT (Power-On Test)
  • Customized IP testing design
  • Support HEART technology (High Efficient Accumulative Repairing Technology)
 
应用
  • eFlash
  • MTP
  • Particular memory SRAM testing & repairing
  • MRAM
  • RRAM
 
测试接口
  • JTAG
  • IEEE 1149.7
  • IEEE 1687
  • SPI
 
 
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