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      芯片测试数据工具的特色
       
       
      多功能模组页面 

      采用「页签」方式呈现出所查询及分析的工程数据、分析结果及统计图表,供用户随时切换页签,并且比较及归纳数据所呈现的意义

       

      产品阶层的信息分析 

      整合各种产品信息与测试数据,用户可清楚的判读在产品各种属性下的信息与其表征意义

       

      快速数据查询列表 

      简便勾选即可依据产品数据的范围,呈现工程数据列表,迅速进入分析主题。

       

      丰富的图表分析工具 

      以产品管理与工程分析为目的,提供产品工程所需的各种统计作图与报表分析。

       

      工程探索(Data Exploratory)操控功能 

      透过用户的操控,可全面的了解工程状况、程度、及质量水平,并且找出呈现问题的信息与关键参数。

       

       
      工具组成
       
       
      UEDA 

      针对IC 上下游所有产品工程阶段之生产测试数据,包含WATCPFT个别模块分析,以及参数相关性分析,提供工程管理人员最快速、最深入的分析工具。

       

      Yield Tracer 

      针对IC产品制造阶段的各种良率信息,提供时间与类别的群组分析,并且执行各种产品总览与良率追踪之报表服务。

       

      UEPA 

      针对IC电性测试的参数资料(Test Log Data),专注于参数类型各种统计分析(Distribution Analysis)与晶粒单位(Chip Level)的参数分析。

       

      UWIP 

      在制品(WIP)工程分析,包括产品与外包商类别统计与出货量预估。

       

       
      丰富的图表分析
       
       
      Trend Chart

       

      Histogram

      Box Plot

       

      Bar Chart

      CDF Plot

       

      Prato Plot

      Scatter Plot

       

      Weibull Plot



      多冲参数分布

       

      Data Table (多重排序筛选) 



      群组分析(Group Summary) 

       

      相关性分析(Correlation) 

       
      快速CP MAP浏览
       
       

       

       
      良率分析图形工具  
       
       
      CP Yield Map 

      Failure Bin Stack Map 


      Distribution Threshold Map

       

如需了解详细产品信息,请联系我们:This email address is being protected from spambots. You need JavaScript enabled to view it. 或者 +86 186 0211 1428